HI705

微电脑二氧化硅（LR）浓度测定仪范围：0.00 to 2.00 mg/ L（ppm）SiO₂
校零、检查和测量过程，一键完成
用于现场快速精确分析

产品概述：

二氧化硅在溶解矿物质的天然水体中存在。但在工业应用中却不希望有二氧化硅的存在，因为二氧化硅会引起结垢现象。
特别是高压管道中更易受二氧化硅的影响。
加热系统和反渗透工厂也有必要监测二氧化硅。

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性能特点
▪ 优良的光学系统设计，人性化确认操作，保证仪器的良好校准；
▪ 易读LCD显示屏，人性化显示界面，操作简单、快捷；
▪ 倒计时功能，试剂与样品反应时间一致性，确保测量精确度；
▪ 操作简单，出厂前内置标准曲线标定，确保仪器性能最佳；
▪ 高精度测量结果，光源防尘测量系统，自动关机节电模式
▪ 优良防水性能，适用于实验室和现场快速样品分析测量。

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仪器在使用一段时间后，仪器光学系统将会衰减，造成内部设置的标准曲线会出现漂移，影响测量数据可靠性和准确性。
独有CHECK^TM性能核查功能，使用专用NIST二氧化硅标准核查组定期（频繁使用，1-3个月标准核查一次，常规情况下，半年标准核查一次）对仪器进行检查，测量值在NIST标准值范围内，仪器光学系统为最佳，如果偏离标准值范围较大，应该及时送检。

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专用NIST二氧化硅标准核查组，保存和使用应在18 to 25°C（64.5 to 77°F）温度范围内，非Hanna 品牌专用二氧化硅标准核查组，并不能确保其标准值真实性。

技术参数：

测量范围：0.00 to 2.00 mg/ L（ppm）SiO₂
解 析 度：0.01 mg/L（ppm）
测量精度：读数±5% ± 0.03 mg/L @ 25°C

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测量方法：参照ASTM D859标准杂多蓝方法
光学系统：定制专用接收器暨光源系统

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电源模式：1 x 1.5V 电池，在测量模式下，10分钟不用后自动关机
使用环境：0 to 50°C（32 to 122°F），RH max 95%，无冷凝
尺寸重量：主机尺寸：81.5 x 61 x 37.5 mm，主机重量：64g

标准配置：

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